Título: Introducción a la microscopía de
efecto tunel (STM) y la
microscopía electrónica de barrido (SEM)
Autores: Taisia Gorkhover y Daniela Rupp,
Technische Universität Berlin
(pdf poster, 32 Kb,
pdf slides, 1.4Mb).
Contenidos:
- Principios básicos y magnitudes de STM
- Teoría de STM
- Diseño y propiedades del experimento
- Grabación y análisis de imágenes en STM
- STM: posibilidades y fronteras
- Diferencias con la microscopía electrónica de barrido (SEM)
- SEM en la transformación reconstructiva de la mica muscovita
Sevilla, 22 de enero de 2007.
Organizado por el Grupo de
Física No Lineal de la Universidad de Sevilla
(GFNL).